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MP300 C3는 제조생산 환경에서 접촉식 스마트 카드 및 기타 스마트 제품의 테스트 및 (사전)개인화와 관련된 작업을 선도하고 있는 제품입니다.
주요 스마트 카드 및 칩 제조업체의 공장에서 사용되는 이 제품은 높은 처리량, 안정성 및 효율성을 갖추어서 제조생산 업계의 제약을 완벽하게 통합했습니다.
주요 특징 :
기술 자료
지원되는 프로토콜 ISO/IEC 7816-3 - T=0 및 T=1 프로토콜 : 펌웨어 및 FPG에 의해 100% 구현되고 관리, 하드웨어에 의해 가속화 SWP/HCI (ETSI TS 102.613 and ETSI TS 102.622) - SWP 전송 : 하드웨어 지원 - LLC 레이어(layers) 지원 : 펌웨어에 의해 구현된 ACT, CLT, S-HDLC USB 2.0 - 사용 가능한 속도 : 저속, 최고 속도 - 클래스 : ISO/IEC 7816-12, 대용량 저장 장치, 사용자 정의 프로토콜 I2C -modes supported : +standard mode +fast mode +fast mode plus – supports clock stretching, multi master arbitration, anti tearing – programmable parameters : +setup time, hold time, start and stop condition +clock high and low states +address width (7 and 10 bits) +nack condition 동기 칩 - 모든 종류의 메모리 구성요소(SLE 46xx, T2G, …) 지원 Raw 모드 - 맞춤형 프로토콜 구현 및 표준 칩 외 지원 프로그래밍 가능한 매개변수 물리적 매개변수 - 전압 - Vcc : 0V ~ 10V에서 조정 가능 - Vol/Voh : 0V ~ 5V / 1V ~ 7V - Vil/Vih : 0.2V ~ 5V / 1V ~ 6.8V - 클럭 주파수 - ISO 7816 클럭 : - Adjustable from 10kHz ~ 20Mhz 조정 가능 - 듀티 사이클 : 30% ~ 70% |
핀 상태 - 모든 핀은 별도로 관리 ISO 7816 통신 매개변수 - 조정가능 매개변수 : 모든 표준 타이밍(WWT, BWT, CWT, …), 패리티(parity), 풀업(pull-up) 저항 SWP 통신 매개변수 - 사용가능한 전송 속도 :106 kbps, 212 kbps, 424 kbps, 848 kbps, 1,6Mbps - 조정가능한 매개변수: 활성화 시간, P2, P3 매개변수, 현재 탐지 수준 사용가능한 테스트 전기 테스트 – Open/short test (on all contacts,current forced can be adjusted) – Leakage current (all contacts) – Voltage measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode) – Current measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode) – Parametric tests (V=f(I), I=f(V)) – SWP specific measurement (statistics on SWP S2 current values) 논리적 테스트 - ISO 7816 및 SWP 동시 I/O 테스트 : ISO 및 SWP 동시에 프레임 전송 |
사용 분야
The MP300 C3는 일반적으로 다음과 같은 분야에서 사용됩니다 :