모델 | 설명 | Quote |
ST5520 | 외부 I/O 출력 포함 | |
ST5520-01 | BCD 출력 포함 |
본체만으로는 측정할 수 없습니다. 측정목적에 맞게 옵션의 테스트 리드를 별도로 구입해주십시오.
주요 특징
■ 기본 사양
INSULATION TESTER ST5520 | |
측정 항목 | 절연저항 (직류전압인가방식) |
시험전압/ 측정 레인지 (오토 / 매뉴얼) | 25 V ≤ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ),
100 V ≤ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ), 500 V ≤ V ≤ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ) |
기본정확도 | ±2 % rdg. ±5 dgt.
25 V ≤ V < 100 V [0 to 20 MΩ] 100 V ≤ V < 500 V [0 to 20 MΩ] 500 V ≤ V ≤ 1000 V [0 to 200 MΩ] |
측정 속도 | Fast : 30 ms/회, Slow: 500 ms/회 (전환) |
표시부 | LCD (수명 00,000 시간), 백라이트 4단계 |
메모리 기능 | 저장내용: 정격측정전압값, 컴퍼레이터 상/하한값, 시험모드, 판정 비프음, 시험시간, 응답시간, 저항 레인지, 측정속도
메모리수: 최대 10항목 (세이브/로드 가능) |
컴퍼레이터 설정 | UPPER_FAIL: 측정값 ≥ 상한값
PASS: 상한값 > 측정값 > 하한값 LOWER_FAIL: 측정값 ≤ 하한값 |
판정 처리 | 비프음, PASS / U.FAIL/L. FAIL: LED 표시,UL_FAIL시에는 U.FAIL / L.FAIL을 동시 점등, 외부 I/O출력, RS-232C 판정 출력 |
시험시간 타이머 | 0.045초 ~ 999.999초 (0.001초 분해능)으로 전압인가부터 합불 판정까지의 시간을 설정 가능 |
응답시간 타이머 | 시험 시작 후 컴퍼레이터 판정을 0.005초 ~ 999.999초 (0.001초 분해능)로 설정된시간이 경과될때 가지 동작 금지 |
아날로그 출력 | DC +4 V f.s. |
인터페이스 | RS-232C (표준 장착), 외부 I/O (외부컨트롤용 입력, 판정결과 출력) BCD 출력 (ST5520-01 만) |
전원 | AC 100~240 V , 50/60 Hz, 25 VA max. |
치수 및 질량 | 215W × 80 H × 166 D mm, 1.1 kg |
부속품 | 사용설명서×1, 전원코드×1, 외부 I/O 커넥터 ×1, 커넥터 커버 ×1 |
■ 입출력 코드
φ3.5 mm 미니 플러그-바나나 단자, 1.5 m
입력 바나나단자-출력 BNC 단자
1.2 m
케이블 길이 70 cm, 선단부분은 핀 리드와 악어클립 교체가 가능, 최대입력전압 : CAT IV 600V, CAT III 1000V
80 cm
■ PC 커뮤니케이션
9pin - 9pin, 크로스, 1.8m
9pin - 25pin, 크로스, 1.8m